序号
680
marc_id
xiwen482
期刊名称
Microelectronics and Reliability
期刊首字母
M
ISSN
0026-2714
年、卷、期信息
V.3,no.1(June 1964)-
期刊网站链接
http://www.sciencedirect.com/science/journal/00262714
外网可看年限信息
1995-
组团信息
Elsevier组团
出版商信息
Oxford$$Pergamon Press
语种
英
出版平台
Elsevier/ScienceDirect
备注
常用
期刊关联性
