序号
113
marc_id
chwen143
期刊名称
微电子测试
期刊首字母
wdzcs
期刊别称
Microelectronic Test
ISSN
1000-8519
年、卷、期信息
V.1,no.1(1987)-v.11,no.4(1997)
出版商信息
北京$$集成电路测试技术中心
语种
中
期刊关联性

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